絕緣電壓擊穿耐壓試驗(yàn)儀GB/T 13542.2-2009電氣絕緣用薄膜第2部分:試驗(yàn)方法(IEC60674-2:1988,MOD)

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本部分。

3.1

卷繞性windability

薄膜的卷繞性用于評定成卷薄膜的變形情況,可由偏移/弧形和凹陷兩方面衡量。

3.1.1

偏移/弧形bias-camber

當(dāng)薄膜平整地打開時(shí),其邊緣不呈直線(偏移或弧形)、

3.1.2

凹陷

sag

當(dāng)一段薄膜由兩個(gè)呈水平位置的平行輥支撐并承受一定張力的情況下,其中有部分薄膜會低于總

的水平面。接頭耐熱性或耐溶劑性等特殊要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商。

4.4管芯

薄膜應(yīng)卷在圓形管芯上,管芯在卷繞拉伸下應(yīng)不掉屑、坍塌或歪扭,也不應(yīng)損壞薄膜或使其性能降

低。管芯的所有性能和尺寸及其偏差由供需雙方協(xié)商,管芯的優(yōu)選內(nèi)徑為76 mm和152 mm,管芯可以

伸出膜卷的端部,或者與端部平齊。

5尺寸

5.1厚度

按GB/T 13542.2-2009第4章所述的方法測定厚度,除非在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中另有規(guī)定,且測得的厚度

應(yīng)在標(biāo)稱值±10%范圍內(nèi)。

5.2寬度

寬度應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,按GB/T 13542.22009第6章規(guī)定的方法測定的寬度，除非產(chǎn)品標(biāo)

準(zhǔn)另有規(guī)定,其允許偏差應(yīng)符合表1的規(guī)定。

表1薄膜寬度

單位為毫米

寬度

偏差

≤50

±0.5

>50~300

±1.0

>300~450

±2.0

>450

±4.0

5.3長度

對長度的要求由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

6檢驗(yàn)規(guī)則GB/T 13542《電氣絕緣用薄膜)分為以下幾個(gè)部分:

一第1部分:定義和一般要求;

一一第2部分:試驗(yàn)方法;

一第3部分:電容器用雙軸定向聚丙烯薄聵;

一第4部分:聚酯薄膜

.…。

本部分為GB/T13542的第1部分。

本部分修改采用IEC60674-1:1980《電氣用塑料薄膜第1部分:定義和一般要求(英文版)。

本部分與IEC60674-1的主要技術(shù)差異如下:

1)增加了“規(guī)范性引用文件"章;

2)增加了“檢驗(yàn)規(guī)則"章。

本部分代替GB/T 13542-1992《電氣用塑料薄膜一般要求》,

本部分與GB/T 13542-1992相比主要差異如下:

1)將“引用標(biāo)準(zhǔn)"改為“規(guī)范性引用文件"

2)定義3.1.1中“偏斜"改為“偏移/弧形"。

本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。

本部分由全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC51)歸口，

本都分起草單位:桂林電器科學(xué)研究所,東材科技集團(tuán)股份有限公司。

本部分主要起草人:王先修、趙平。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

GB/T13542-1992。

6.1薄膜應(yīng)進(jìn)行出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)。

6.2型式檢驗(yàn)項(xiàng)目為產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)要求規(guī)定的全部項(xiàng)目，每三個(gè)月至少進(jìn)行一次。當(dāng)原材料變更

或工藝條件改變時(shí),也應(yīng)進(jìn)行型式檢驗(yàn)。

6.3產(chǎn)品批量、抽樣方法和出廠檢驗(yàn)項(xiàng)目在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，每批薄膜應(yīng)進(jìn)行出廠檢驗(yàn),產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)

合格才能出廠。制造廠應(yīng)保證出廠產(chǎn)品符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中全部技術(shù)要求。

6.4當(dāng)試驗(yàn)結(jié)果中任何一項(xiàng)不符合技術(shù)要求時(shí),應(yīng)在該批薄膜另外二卷中各取一組試樣重復(fù)該項(xiàng)試

驗(yàn),如仍有一組不符合要求時(shí),該批薄膜為不合格品。

6.5使用單位可按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的全部或部分項(xiàng)目進(jìn)行驗(yàn)收檢驗(yàn)。預(yù)處理?xiàng)l件按GB/T13542.2-2009

中3.2要求進(jìn)行。

6.6使用單位有要求時(shí),制造廠應(yīng)提供產(chǎn)品檢驗(yàn)報(bào)告。

7標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存

7.1薄膜卷要用防潮紙或塑料薄膜包裹,外層套裝塑料袋,并架空支撐放置于包裝箱中,使薄膜在通常

的貯存和運(yùn)輸條件下得到充分保護(hù)而不受損壞和變質(zhì)。

7.2每箱薄膜應(yīng)有明顯而牢固的標(biāo)志:

TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)

●  多級循環(huán)電壓采集技術(shù):

材料擊穿后,瞬間放電速度約為光速的1/5~1/3,國際通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。

●  低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):

高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而無論是國產(chǎn)與進(jìn)口電流采集傳感器,大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號處理時(shí),從而造成檢測不準(zhǔn)確。無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計(jì)的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過大,從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進(jìn)行相應(yīng)處理。同流采集華測自主開發(fā)的保護(hù)模塊來保證采集精度與保護(hù)采集元件。

●  雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器,華測生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí),將瞬間切斷高壓。

絕緣電壓擊穿耐壓試驗(yàn)儀

GB/T1408絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法第1部分：工頻下試驗(yàn)

1、范圍

GB/T1408的本部分規(guī)定了測量固體絕緣材料工頻（即48Hz～62Hz）短時(shí)電氣強(qiáng)度的試驗(yàn)方法．本部分規(guī)定了用液體和氣體作為固體絕緣材料試驗(yàn)時(shí)的浸漬劑或周圍媒質(zhì)，但不適用于液體和氣體的試驗(yàn)．

注：本部分包括測定團(tuán)體絕緣材料表面擊穿電壓的方法．

2、規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 1408的本部分的引用而成為本部分的條款。 凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單<不包括勘誤的內(nèi)容>或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成 協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。 凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本部分．

GB/T 1981. 2-2003 電氣絕緣用漆第2部分：試驗(yàn)方法（IEC 60464“2: 2001, IDT)

GB/T 7113. 2-2005 絕緣軟管 試驗(yàn)方法（IEC 60684-2:1997 ,MOD)

GB/T 10580-2003 固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件(IEC 60212: 1971,IDT) ISO 293: 1986 塑料 熱塑性材料壓模塑試樣

ISO 294-1: 1996 塑料 熱塑性材料試樣的注模塑法 第1部分： 一般原則、多用途模塑件及條形試樣

ISO 294-3: 1996 塑科 熱塑性材料試樣的注模塑法 第3部分：小板 ISO 295: 1991 塑料 熱固性材料壓模塑試樣

ISO 10724: 1994 塑料 熱固性模塑料 注塑成型多用途試樣

IEC 60296: 2003 變壓器和開關(guān)用的未使用過的礦物絕緣油規(guī)范

IEC 60455-2, 1998 電氣絕緣用柑脂基反應(yīng)復(fù)合物 第2部分：試驗(yàn)方法 IEC 60674-2: 1988 電氣用塑料薄膜 第2部分z試驗(yàn)方法

3、定義

下列定義適用于本部分。

電氣擊穿試樣承受電應(yīng)力作用時(shí)，其絕緣性能嚴(yán)重?fù)p失，由此引起的試驗(yàn)田路電流促使相應(yīng)的回路斷路器動作．

注：擊穿通常是由試中羊和電極周圍的氣體或液體媒質(zhì)中的局部放電引起，并使得較小電極（或等徑兩電極）邊緣的試樣遭到破壞

閃絡(luò)試樣和電極周圍的氣體或液體媒質(zhì)承受電應(yīng)力作用時(shí)，其絕緣性能損失，由此引起的試驗(yàn)回路電流促使相應(yīng)的回路斷路器動作．注：碳化通道的出現(xiàn)或穿透試樣的擊穿可用于區(qū)分試驗(yàn)是擊穿還是閃絡(luò)。

擊穿電壓<在連續(xù)升壓試驗(yàn)中>在規(guī)定的試驗(yàn)條件下，試樣發(fā)生擊穿時(shí)的電壓。<在逐級升壓試驗(yàn)中>試樣承受住的最高電壓，即在該電壓水平下，整個(gè)時(shí)間內(nèi)試樣不發(fā)生擊穿。

電氣強(qiáng)度在規(guī)定的試驗(yàn)條件下，擊穿電壓與施加電壓的兩電極之間距離的商。 注除非另有規(guī)定，應(yīng)按本部分5.4規(guī)定測定兩試驗(yàn)電極之間的距離。試驗(yàn)的意義按本部分得到的電氣強(qiáng)度試驗(yàn)結(jié)果，能用來檢測由于工藝變更、老化條件或其他制造或環(huán)境情況而引起的性能相對于正常值的變化或偏離，而很少能用于直接確定在實(shí)際應(yīng)用中的絕緣材料的性能狀態(tài)材料的電氣強(qiáng)度測試值可受如下多種因素的影響：

 試樣的狀態(tài)a) 試樣的厚度和均勻性，是否存在機(jī)械應(yīng)力；

b) 試樣預(yù)處理，特別是干燥和浸漬過程；